產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

XRF熒光光譜分析儀非常堅(jiān)固耐用，可以在極為惡劣的環(huán)境中完成分析要求高的應(yīng)用?？梢杂脕韺?duì)各種不同類型的礦石進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)分析。通過現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的成熟的X射線管分析系統(tǒng)，無輻射性同位素，現(xiàn)場(chǎng)分析時(shí)能做出快速而全面的礦石類型研究，對(duì)樣品要求低，但是測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確，能準(zhǔn)確分析高濃度樣品，避免了驗(yàn)證性的實(shí)驗(yàn)室測(cè)試。可對(duì)各種礦石進(jìn)行多元素分析，廣泛應(yīng)用于礦業(yè)、地質(zhì)、土壤環(huán)境、底泥、沉積物中的有色金屬元素的快速分析測(cè)定，還應(yīng)用于礦渣精煉分析及考古研究。包括金礦、銀礦、銅礦、鐵礦、錫礦、鋅礦、鎳礦、鉬礦、銥礦、砷礦、鉛礦、鈦礦、銻礦、錳礦、釩礦、碘礦、硫礦、鉀礦、磷礦、鈾礦等從磷到鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿。被檢測(cè)的樣品可以是固體、液體、粉塵、粉末、實(shí)心體、碎片、過濾物質(zhì)、薄膜層等有形物體。

XRF熒光光譜分析儀的技術(shù)參數(shù)：

1、檢測(cè)元素：可用于礦石、土壤環(huán)境中金屬元素，Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru、Rh、Pd等元素。

2、探測(cè)器：美國(guó)Moxtek Si-pin（6 mm2）、美國(guó)Amptek Si-pin（25 mm2）、德國(guó)KETEK SDD探測(cè)器 ；

3、激發(fā)源：大功率微型直板X射線管，W靶材，4W大功率X射線管，管電壓50KV，管電流最大可達(dá)100μA；

4、采用KMX技術(shù)，更高X射線計(jì)數(shù)率，超低電子噪聲設(shè)計(jì)。每次測(cè)試前，不需要外部標(biāo)樣，自動(dòng)能量校準(zhǔn)核查；

5、濾光片：配置8個(gè)濾光片，可根據(jù)測(cè)試元素自動(dòng)切換；

6、測(cè)試方法：基本參數(shù)法，支持經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法修正；

7、點(diǎn)觸或扣動(dòng)扳機(jī)控制測(cè)試開始，測(cè)試過程無需長(zhǎng)扣扳機(jī)。根據(jù)客戶需求，也可以一直按著扳機(jī)測(cè)試樣品。

8、操作系統(tǒng)：Window CE 6.0操作系統(tǒng)，安全、放心；

9、自診斷功能：儀器可自動(dòng)對(duì)硬件、軟件、網(wǎng)絡(luò)、電池等進(jìn)行診斷，并會(huì)生成日志，便于快速排查出故障；

10、標(biāo)配模式：礦石模式；選配模式：合金分析模式、土壤分析模式；